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Xray測厚儀

  • 產(chǎn)品型號:THICK800A
  • 更新時間:2022-03-04

簡要描述:Xray測厚儀就是用X射線檢測的原理來測量電鍍鍍層厚度的儀器,因為X射線檢測是無損的、快速的,基本可以實時的在電鍍及工業(yè)生產(chǎn)線上,做到對產(chǎn)品質(zhì)量實時的管控。儀器操作簡單方便,也經(jīng)久耐用,是電鍍及表面處理行業(yè)里*的好幫手。

產(chǎn)品詳情
  在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時,Xray測厚儀為您提供解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測量,能夠在測量臺上對樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據(jù)自己的測量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。
 
  特性:
 
  憑借寬大的測量室和自下而上的測量方向,即使大型樣品(如:印制電路板或柔性電路板)也可簡便、快速地定位
 
  硬件選項豐富多樣,可滿足各種測量需求
 
  可選配微聚焦 X 射線管,從而可測量直徑僅為 100 µm 的微型結(jié)構(gòu)和測量表面
 
  應(yīng)用:
 
  鉻鍍層,如:經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
 
  防腐蝕鍍層,如鋼材上的鋅鍍層
 
  印制電路板和柔性電路板上的鍍層
 
  接插件和連接器上的鍍層
 
  電鍍槽液分析
 
  憑借電機(jī)驅(qū)動(可選)與自上而下的測量方向,XDL® 系列測量儀器能夠進(jìn)行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。
 
  特性:
 
  X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務(wù)
 
  由于測量距離可以調(diào)節(jié)(最大可達(dá) 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件
 
  通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現(xiàn)自動化的批量測試
 
  使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設(shè)備)
 
  應(yīng)用:
 
  鍍層厚度測量
 
  大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
 
  電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層
 
  復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
 
  鉻鍍層,如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
 
  氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量
 
  材料分析
 
  電鍍槽液分析
 
  電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析
 
  Xray測厚儀應(yīng)用:
 
  鍍層厚度測量
 
  測量未布元器件和已布元器件的印制線路板
 
  在納米范圍內(nèi)測量復(fù)雜鍍層系統(tǒng),如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度
 
  對最大12英寸直徑的晶圓進(jìn)行全自動的質(zhì)量監(jiān)控
 
  在納米范圍內(nèi)測量金屬化層(凸塊下金屬化層,UBM)
 
  遵循標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 3497 和 ASTM B568
 
  材料分析
 
  分析諸如Na等極輕元素
 
  分析銅柱上的無鉛化焊帽
 
  分析半導(dǎo)體行業(yè)中C4或更小的焊料凸塊以及微小的接觸面
 
  特性:
 
  操作簡單且性價比高。
 
  自下而上進(jìn)行測量,從而快速、簡便地定位樣品
 
  廣泛適用:為各個行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號
 
  以非破壞性方式進(jìn)行鍍層厚度測量與元素分析
 
  帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機(jī)型,可對極薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測量
 
  鍍層厚度測量
 
  厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層
 
  時尚首飾:對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析
 
  抗磨損鍍層,如:對化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測量
 
  測試納米級基礎(chǔ)金屬化層(凸點下金屬化層,UBM)
 
  材料分析
 
  測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度
 
  專業(yè)實驗室、檢測機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析
 
  依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則,檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的物質(zhì)(例如重金屬)
 
  功能性鍍層的成分,如測定化學(xué)鎳中的磷含量
 
  應(yīng)用領(lǐng)域:
 
  線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測
 
  手表、精密儀表制造行業(yè)
 
  鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
 
  釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
 
  汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測
 
  衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
 
  電鍍液的金屬陽離子檢測
 
  其他樣品鍍層測試
 
  性能優(yōu)勢:
 
  下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。
 
  無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm。
 
  微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。
 
  高效率的接收器:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
 
  精密微型滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。
 
  EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
 
  儀器規(guī)格:
 
  外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm (長x寬x高)
 
  樣品倉尺寸 :500mm×360 mm ×215mm (長x寬x高)
 
  儀器重量 :55kg
 
  供電電源 :交流220±5V
 
  最大功率 :330W
 
  環(huán)境溫度:15℃-30℃
 
  環(huán)境相對濕度:<70%
 
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